Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 6749-4-1:2017 (IEC 60384-4-1:2007) về Tụ điện không đổi dùng trong thiết bị điện tử - Phần 4-1: Quy định kỹ thuật cụ thể còn để trống - Tụ điện không đổi điện phân nhôm có chất điện phân không rắn - Mức đánh giá EZ

[1]

IEC 60384-4-1-XXX

QC 300301-XXX

[2]

LINH KIỆN ĐIỆN TỬ CÓ CHẤT LƯỢNG ĐƯỢC ĐÁNH GIÁ PHÙ HỢP VỚI:

IEC 60384-1

IEC 60384-4

IEC 60384-4-1

QC 300301

14]

TỤ ĐIỆN KHÔNG ĐỔI ĐIỆN PHÂN BỌC NHÔM CÓ CHẤT ĐIỆN PHÂN KHÔNG RẮN

[5]

[3]

Bản vẽ hình bao (xem Bảng 1)

(.... hình chiếu góc)

[7]

[6]

(Các hình dạng khác được cho phép trong phạm vi các kích thước đã cho).

(Các) mức đánh giá: EZ

Cấp tính năng:

[8]

Thông tin về có các linh kiện phù hợp với quy định kỹ thuật cụ thể này được cho trong IEC QC 001005

Tham chiếu cỡ của vỏ bọc

Kích thước

mm

Æ

L

H

d

……

CHÚ THÍCH 1: Trường hợp không có tham chiếu cỡ của vỏ bọc, có thể bỏ qua Bảng 1 và các kích thước cho trong Bảng 2, khi đó trở thành Bảng 1.

CHÚ THÍCH 2: Các kích thước được cho là các kích thước lớn nhất hoặc các kích thước danh nghĩa với một dung sai.

Điện áp danh định

Loại điện áp ^a

Cỡ của vỏ bọc

Cỡ của vỏ bọc

Cỡ của vỏ bọc

Cỡ của vỏ bọc

Điện dung danh định

μF

^aNếu khác với điện áp danh định.

U_R

C_R

Tang của góc tổn haoở .... °C,…. Hz

Trở kháng ở .... °C,…. Hz (nếu áp dụng)

Dòng điện gợn sóng danh địnhở .... °C,…. Hz

V

μF

Ω

A

Bảng này được sử dụng để xác định các đặc tính bổ sung hoặc khắc nghiệt hơn so với các đặc tính quy định trong quy định kỹ thuật từng phần

Số điều và thử nghiệm^a

D^b hoặcND^c

Điều kiện thử nghiệm^a

IL^b

n^b

c^b

Yêu cầu tính năng^a

Kiểm tra nhóm A
(theo lô)

Phân nhóm A1

4.1 Kiểm tra bằngmắt

4.2 Kích thước (đo)

ND

S-3^c

^c

0

Như ở 4.2

Ghi nhãn rõ ràng và như quy định ở 1.5 của quy định kỹ thuật này

Như quy định trong Bảng 1 của quy định kỹ thuật này.

Phân nhóm A2

4.3.1 Dòng điện rò

4.3.2  Điện dung

4.3.3 Tang của góc tổn hao

4.3.4  Trở kháng (nếu áp dụng)

ND

Điện trở bảo vệ:....Ω

Tần số:... Hz

Tần số:... Hz

Tần số:... Hz

S-3^c

^c

0

Như ở 4.3.1.2

Trong khoảng dung sai quy định

Như ở 4.3.3.2

Trong giới hạn quy định ở quy định kỹ thuật cụ thể.

^a) Số điều của các thử nghiệm và các yêu cầu tính năng, tham khảo IEC 60384-4 và Điều 1 của quy định kỹ thuật này.

^b) Trong bảng này:

IL là mức kiểm tra (IEC 60410)

n là cỡ mẫu;

c là số cho phép hạng mục không phù hợp

p là định kỳ (tính bằng tháng);

D là phá hủy

ND là không phá hủy

^c)Số lượng cần được thử nghiệm: Cỡ mẫu như được phân bổ trực tiếp cho chữ cái mã đối với IL trong Bảng II A củaIEC 60410.

Số điều và thử nghiệm^a

D^b hoặcND

Điều kiện thử nghiệm^a

IL^b

n^b

c^b

Yêu cầu về tính năng^a

Kiểm tra nhóm B
(theo lô)

Phân nhóm B1

4.6 Khả năng hàn^d

4.17 Lưu kho ở nhiệt độ cao (nếu yêu cầu)

4.17.1  Phép đo ban đầu

4.17.3  Phép đo kết thúc

ND

Phương pháp: …

Nhiệt độ:

Nhiệt độ trên của chủng loại

Khoảng thời gian: 96 h ± 4 h

Phục hồi: tối thiểu 16 h.

Điện dung

Kiểm tra bằng mắt

Dòng rò

Điện dung

Tang của góc tổn hao

S-3^c

^c

0

Độ bám thiếc tốt, bằng chứng là dòng thiếc hàn chảy tự do bám thiếc các chân của linh kiện hoặc đáp ứng (các) tham sốyêu cầu trong quy định kỹ thuật cụ thể nếu áp dụng

Không có hư hại nhìn thấy được và không có rò rỉ chất điện phân

≤ 2 lần các giới hạn ở 4.3.1

|∆C/C| ≤ 10% của giá trịđo được ở 4.17.1

≤ 1,2 lần giới hạn ở 4.3.3

Phân nhóm B2

4.19 Đặc tính ở nhiệt độ cao và thấp

ND

Tụ điện phải được đo ở mỗi bước nhiệt độ

Bước 1: 20 ^oC

Trở kháng (ở cùng tần số với Bước 2)

Bước 2:

Nhiệt độ dưới của chủng loại

Trở kháng

S-3^c

^c

0

Tỷ số tương ứng giá trịtrong Bước 1

Điện áp danh định

V

Tỷ số trở kháng

U_R ≤ 6,3

6,3 R ≤ 16

16 R ≤ 160

160 R

≤ 10

≤ 8

≤ 6

≤ 10

^a Số điều của các thử nghiệm và của các yêu cầu tính năng, tham khảo IEC 60384-4 và Điều 1 của quy định kỹ thuật này.

^b Trong bảng này:

IL là mức kiểm tra (IEC 60410)

n là cỡ mẫu;

c  là số cho phép các hạng mục không phù hợp

p là định kỳ (tính bằng tháng);

D là phá hủy

ND là không phá hủy

^c)Số lượng cần được thử nghiệm: Cỡ mẫu như được phân bổ trực tiếp cho chữ cái mã đối với IL trong Bảng II A của IEC 60410.

^dKhông áp dụng đối với các tụ điện có đầu nối vít hoặc các đầu nối khác không được thiết kế để hàn, như được nêu trong quy định kỹ thuật cụ thể.

^eThử nghiệm trong phân nhóm B1 được coi là không phá hủy với điều kiện không áp dụng thử nghiệm lưu kho ở nhiệt độ cao (tùy chọn). Nếu thực hiện thử nghiệm lưu kho ở nhiệt độ cao, các tụ điện được lão hóa trở lại và phải được kiểm tra như một phần của lô tiếp theo.

Số điều và thử nghiệm^a

D^b hoặcND

Điều kiện thử nghiệm^a

Cỡ mẫu và tiêu chí chấp nhận^c

Yêu cầu tính năng^a

p

n

c

Kiểm tra nhóm C
(định kỳ)

Xem quy định kỹ thuật cụ thể

Không có hư hại nhìn thấy được

Không có hư hại nhìnthấy được

Ghi nhãn rõ ràng

|∆C/C| ≤ 5% của giá trị đođược ở 4.4.1

Phân nhóm C1A

Phần của cỡ mẫu của phânnhóm C1

4.2  Kích thước(chi tiết)

4.4.1  Phép đo ban đầu

4.4 Độ bền chắc của các chân

4.5 Khả năng chịu nhiệt hàn*

4.5.2  Phép đo kết thúc

D

Điện dung

Kiểm tra bằng mắt

Phương pháp:...

Mức khắc nghiệt

Không làm khô trước

Phương pháp:...

Kiểm tra bằng mắt

Điện dung

6

9

0

Phân nhóm C1B

Phần mẫu khác của nhóm C1

4.7 Thay đổi nhanh nhiệt độ

4.7.1. Phép đo ban đầu

4.7.3 Phép đo kết thúc

4.8  Rung

4.8.2 Phép đo kết thúc

D

T_A = Nhiệt độ dưới của chủng loại
T_B = Nhiệt độ trên của chủng loại 5 chu kỳ
Khoảng thời gian t₁ = 30 min hoặc 3 h
Phục hồi: 16 h
Điện dung

Kiểm tra bằng mắt

Phương pháp lắp: xem 1.1 của quy định kỹ thuật này
Dải tần số:
... Hz đến... Hz
Biên độ:... mm hoặc
Gia tốc:... m/s²
(chọn giá trị ít khắc nghiệt hơn) Thời gian tổng: … h

Kiểm tra bằng mắt

Điện dung

6

18

0

Không có hư hại nhìn thấy được và không rò rỉ chất điện phân.

Không có hư hại nhìn thấy được và không rò rỉ chất điện phân.

Ghi nhãn rõ ràng

|∆C/C| ≤ 5% của giá trị đođược ở 4.7.1, trừ khi có quy định khác trong quy định kỹ thuậtcụ thể.

* Không áp dụng đối với tụ điện có đầu nối vít hoặc chân không được thiết kế để hàn, như được nêu trong quy định kỹ thuật cụ thể.

Phân nhóm C1B(kết thúc)

4.9  Va đập (hoặc xóc, xem 4.10)

4.10  Xóc (hoặc va đập, xem 4.9)

4.9.2hoặc 4.10.2  Phép đo kết thúc

Phương pháp lắp: xem 1.1 của quy định kỹ thuật này.
Số va đập:....
Gia tốc: 400 m/s²
Khoảng thời gian xung: 6 ms Phương pháp lắp: xem 1.1 của quy định kỹ thuật này
Gia tốc:... m/s²
Khoảng thời gian xung:... ms Kiểm tra bằng mắt

Điện dung

Không có hư hại nhìn thấy được và không có rò rỉchất điện phân
|∆C/C| ≤ 5% của giá trị đođược ở 4.7.1, trừ khi có quy định khác trong quy định kỹ thuậtcụ thể.

Phân nhóm C1

Bộ mẫu kết hợp các mẫu của các phân nhóm C1A và C1B
4.11  Trình tự khí hậu
4.11.1  Nhiệt khô

4.11.2  Nóng ẩm, chu kỳ, thử nghiệm Db, chu kỳ đầu tiên
4.11.3 Lạnh

4.11.4  Áp suất không khí thấp (nếu yêu cầu bởi quy định kỹ thuật cụ thể)
4.11.4.3  Phép đo trung gian

4.11.5  Nóng ẩm, chu kỳ, thử nghiệm Db, các chu kỳ còn lại
4.11.6  Gắn kết (nếu yêu cầu bởi quy định quy định kỹ thuật cụ thể.
4.11.7  Phép đo kết thúc

D

Nhiệt độ:
Nhiệt độ trên của chủng loại Khoảng thời gian: 16 h

Nhiệt độ:
Nhiệt độ dưới của chủng loại Khoảng thời gian: 2 h

Áp suất không khí:
8 kPa

Kiểm tra bằng mắt

Phương pháp:...

Kiểm tra bằng mắt

Dòng điện rò
Điện dung

Tang của góc tổn hao

6

27

0

Không có phóng điện đánh thủng, phóng điện bề mặt hoặc biến dạng có hại của vỏ

Không có hư hại nhìn thấy được và không có rò rỉ chất điện phân

Như ở 4.3.1

|∆C/C|  ≤ 10% của giá trị đo được ở 4.5.2, 4.9.2 hoặc4.10.2 nếu áp dụng.

≤1,2 lần giới hạn ở 4.3.3

Phân nhóm C2

4.12  Nóng ẩm, không đổi

4.12.1 Phép đo ban đầu

4.11.3  Phép đo kết thúc

D

Điện dung

Kiểm tra bằng mắt

Dòng điện rò

Điện dung

Tang của góc tổn hao

Trở kháng

Điện trở cách điện của điện trở ngoài (nếu áp dụng)

Điện áp chịu thử của cách điện ngoài (nếu áp dụng)

6

9

10

Không có hư hại nhìn thấy được và không có rò rỉ chất điện phân.

Ghi nhãn rõ ràng

Như ở 4.3.1

∆C/C đối với

Cấp tuổi thọ dài: ≤ 10%

Cấp mục đích chung:
≤20% giá trị đo được ở 4.12.1

≤ 1,2 lần giới hạn ở 4.3.3

≤1,2 lần giới hạn ở quy định kỹ thuật cụ thể.

≥ 100 MΩ

Không có phóng điện đánh thủng hoặc phóng điện bề mặt

Phân nhóm C3

4.13  Độ bền

4.13.1  Phép đo ban đầu

4.13.3  Phép đo kết thúc

D

Khoảng thời gian:...h

Cấp tuổi thọ dài:…. h

Cấp mục đích chung:…. h

Nhiệt độ:

Nhiệt độ dưới của chủng loại

Điện áp đặt vào: tối thiểu 16 h.

Điện dung

Kiểm tra bằng mắt

Dòng điện rò

Điện dung

3

21

0

Không có phóng điện đánh thủng và không rò rỉ chất điện phân^d
Như ở 4.3.1

∆C/Cso sánh các giá trị đo được ở 4.13.1

Cấp độ tuổi thọ dài:

Điện áp danh định
V

∆C/C
%

U_R ≤ 6,3
6,3 R ≤ 160
160 R

+15 đến -30
± 20
± 15

Cấp mục đích chung:

Điện áp danh định
V

∆C/C
%

U_R≤6,3
6,3R≤ 160
160R

+25 đến -40
±30
±15

Phân nhóm C3 (kết thúc)

Tang của gốc tổn hao

Trở kháng

Điện trở cách điện của cách điện ngoài (nếu áp dụng)

Điện áp chịu thử của cách điện ngoài (nếu áp dụng)

Cấp tuổi thọ dài:
≤ 1,5 lần giới hạn ở 4.3.3

Cấp mục đích chung:
≤2 lần giới hạn ở 4.3.3 hoặc ≤ 0,4, chọn giá trị lớn hơn

Cấp tuổi thọ dài:
≤ 2 lần giới hạn trong quy định kỹ thuật cụ thể.

Cấp mục đích chung:
≤ 4 lần giới hạn trong quy định kỹ thuật cụ thể.

≥ 100 MΩ

Không có phóng điện đánh thủng hoặc phóng điện bề mặt

Phân nhóm C4A

4.14  Đột biến

4.14.1 Phép đo ban đầu

4.14.3  Phép đo kết thúc

D

Số chu kỳ: 1 000

Nhiệt độ:.... °C

Điện áp nạp:

1,15 U_Rhoặc 1,15 U_C
đối với U_R ≤ 315 V
hoặc

1,10 U_Rhoặc 1,10 U_C
đối với U_R> 315 V

Khoảng thời gian nạp: 30 s

Khoảng thời gian không tải:

5 min 30 s

Điện dung

Kiểm tra bằng mắt

Dòng điện rò

Điện dung

Tang của góc tổn hao

12

6

0

Không có hư hại nhìn thấy được và không có rò rỉ chất điện phân

Như ở 4.3.1

∆C/Cgiá trị đo được ở 4.3.1

Như ở 4.3.3

Phân nhóm C4B

4.15 Điện áp ngược
(nếu yêu cầu)

4.15.1 Phép đo ban đầu

4.15.3 Phép đo kết thúc

4.16  Nhả áp suất (nếu yêu cầu)

D

Khoảng thời gian: 125 h, ở nhiệt độ dưới của chủng loại có điện áp thuận 1V một chiều theo hướng phân cực ngược, trừ khi có quy định khác trong quy định kỹ thuật cụ thể, tiếp sau đó 125hở nhiệt độ trên của chủng loại với điện áp kiểu loại theo hướng hướng phân cực thuận

Điện dung

Dòng điện rò

Điện dung

Tang của góc tổn hao

Phương pháp thử nghiệm: …

12

6

0

0

Như ở 4.3.1

∆C/C≤ …. giá trị đo được ở 4.15.1

Như ở 4.3.3

Linh kiện phải mở mà không có nguy hiểm về nổ hoặc cháy

Phân nhóm C5A

4.17  Lưu kho ở nhiệt độ cao^*

4.17.1  Phép đo ban đầu

4.17.3 Phép đo kết thúc

4.22  Quá tải quá độ điện áp (nếu yêu cầu) ^****

4.22.1  Phép đo ban đầu

4.22.2 Phép đo kết thúc

ND

Nhiệt độ:

Nhiệt độ trên của chủng loại Khoảng thời gian: 96 h ± 4 h Phục hồi: tối thiểu 16 h.

Điện dung

Kiểm tra bằng mắt

Dòng điện rò

Điện dung

Tang của góc tổn hao

Điện dung

Kiểm tra bằng mắt

Điện dung

Dòng điện rò

Tang của góc tổn hao

Các tham số khác

6

12

0

Không có hư hại nhìn thấy được và không có rò rỉ chất điện phân ^d

≤ 2 lần giới hạn ở 4.3.1

∆C/C≤ 10% giá trị đo được ở 4.17.1

≤ 1,2 lần giới hạn ở 4.3.3

Xem quy định kỹ thuật cụ thể

Xem quy định kỹ thuật cụ thể

Xem quy định kỹ thuật cụ thể

Xem quy định kỹ thuật cụ thể

Xem quy định kỹ thuật cụ thể

Phân nhóm C5B^**

4.18 Lưu kho ở nhiệt độ thấp

4.18.1  Phép đo ban đầu

4.18.2  Phép đo kết thúc

ND

Khoảng thời gian: 16h hoặc 4h sau khi đạt được ổn định nhiệt (chọn giá trị ngắn hơn)

Nhiệt độ: -40 ^oC

Phục hồi: Tối thiểu 16h

Điện dung

Kiểm tra bằng mắt

Dòng điện rò

Điện dung

Tang của góc tổn hao

12

6

0

Không có hư hại nhìn thấy được và không có rò rỉ chất điện phân

Ghi nhãn rõ ràng
Như ở 4.3.1

∆C/C≤ 10% giá trị đo được ở 4.18.1
Như ở 4.3.3

Phân nhóm C6

4.19  Đặc tính ở nhiệt độ cao và thấp

D

Tụ điện phải được đo ở mỗi
Bước nhiệt độ
Bước 1: 20^oC
Tụ điện ^***
Tang của góc tổn hao ^***

Trở kháng (ở tần số giống Bước 2)

6

15

0

Để sử dụng như là giá trị tham khảo

Để sử dụng như là giá trị tham khảo

^*Không áp dụng nếu thử nghiệm được thực hiện ở Phân nhóm B1.

^**Chỉ phân nhóm này áp dụng cho các tụ điện có nhiệt độ dưới của chủng loại là -25 °C và -10 °C.

^***Nếu áp dụng.

^****Thử nghiệm này chỉ áp dụng cho tụ điện có chất điện phân không rắn và nếu được yêu cầu ở quy định kỹ thuật cụ thể.

Phân nhóm C6 (tiếp theo)

4.20 Nạp điện và phóng điện (nếu yêu cầu)

4.20.1 Phép đo ban đầu

4.20.3 Phép đo kết thúc

ND

Bước 2:

Nhiệt độ dưới của chủng loại

Trở kháng

Bước 2:

Nhiệt độ trên của chủng loại

Dòng diện rò

Điện dung^*

Tang của góc tổn hao^*

Nhiệt độ: 20 °C

Số chu kỳ:

U_R≤ 160 V: 10⁶

U_R> 160 V:

Đang được xem xét

Khoảng thời gian nạp: 0,5 s

Khoảng thời gian phóng: 0,5 s

Điện dung

Kiểm tra bằng mắt

Điện dung

Tỷ số tliên quan tới các giá trị ở Bước 1:

Điện áp danh định V

U_R ≤ 6,3

6,3 R  ≤ 16

16 R ≤ 160

160R

Tỷ số trở kháng

≤ 10

≤ 8

≤ 6

≤ 10

Ở 125 °C: ≤ 0 lần giới hạn của4.3.1

Ở 105 °C: ≤ 8 lần giới hạn của4.3.1

Ở 100 °C: ≤ 8 lần giới hạn của 4.3.1

Ở 85 °C: ≤ 5 lần giới hạn của 4.3.1^*

Xem quy định kỹ thuật cụ thể

Xem quy định kỹ thuật cụ thể

Không có hư hại nhìn thấy được và không có rò rỉ chất điện phân

∆C/C≤ 10% giá trị đo được ở4.20.1

^* Nếu áp dụng

^a Số hiệu điều của các thử nghiệm và của các yêu cầu tính năng, tham khảo IEC 60384-4 và Điều 1 của quy định kỹ thuật này.

^b Mứckiểm tra được lựa chọn từ IEC 60410.

^c Trong bảng này,

p là định kỳ (tính bằng tháng);

n là cỡ mẫu;

c là tiêu chí chấp nhận (số lượng cho phép các hạng mục không phù hợp);

D là phá hủy.

ND là không pháp hủy;

IL là mức kiểm tra (IEC 60410)

^d Khi quy định kỹ thuật chi tiết chỉ ra rằng linh kiện nhả áp lực lặp đi lặp lại được áp dụng cho tụ điện, các ảnh hưởng của hoạt động dự kiến của linh kiện giảm áp (ví dụ,dặm màu lên hoặc nhạt màu ít, ướt nhẹ.v.v.) không được coi là rò và/hoặc hư hại nhìn thấy được. Tuy nhiên, hiện tượng rỉ nước là không được phép.