Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 11344-2:2017 (IEC 60749-2:2002) về Linh kiện bán dẫn - Phương pháp thử nghiệm cơ khí và khí hậu - Phần 2: Áp suất không khí thấp

TIÊU CHUẨN QUỐC GIA

TCVN 11344-2:2017

IEC 60749-2:2002

LINH KIỆN BÁN DẪN - PHƯƠNG PHÁP THỬ NGHIỆM CƠ KHÍ VÀ KHÍ HẬU - PHẦN 2: ÁP SUẤT KHÔNG KHÍ THẤP

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure

Lời nói đầu

TCVN 11344-2:2017 hoàn toàn tương đương với IEC 60749-2:2002;

TCVN 11344-2:2017 do Ban kỹ thuật tiêu chuẩn quốc gia TCVN/TC/E3 Thiết bị điện tử dân dụng biên soạn, Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng đề nghị, Bộ Khoa học và Công nghệ công bố.

Bộ tiêu chuẩn TCVN 11344 (IEC 60749), Linh kiện bán dẫn - Phương pháp thử nghiệm cơ khí và khí hậu gồm các phần sau:

1) TCVN 11344-1:2016 (IEC 60749-1:2002), Phần 1: Yêu cầu chung

2) TCVN 11344-2:2017 (IEC 60749-2:2002), Phần 2: Áp suất không khí thấp

3) TCVN 11344-3:2017 (IEC 60749-3:2017), Phần 3: Kiểm tra bên ngoài bằng mắt

4) TCVN 11344-4:2017 (IEC 60749-4:2017), Phần 4: Thử nghiệm nóng ẩm, không đổi, ứng suất tăng tốc cao.

5) TCVN 11344-6:2016 (IEC 60749-6:2002), Phần 6: Lưu kho ở nhiệt độ cao

6) TCVN 11344-7:2016 (IEC 60749-7:2011), Phần 7: Đo lượng ẩm bên trong và phân tích các khí còn lại khác

7) TCVN 11344-8:2017 (IEC 60749-8:2002), Phần 8: Gắn kín

8) TCVN 11344-9:2016 (IEC 60749-9:2002), Phần 9: Độ bền ghi nhãn

9) TCVN 11344-10:2017 (IEC 60749-10:2002), Phần 10: Xóc cơ học

10) TCVN 11344-14:2017 (IEC 60749-14:2003), Phần 14: Độ bền chắc của chân linh kiện (tính nguyên vẹn của chân)

11) TCVN 11344-15:2017 (IEC 60749-15:2010), Phần 15: Khả năng chịu nhiệt độ hàn đối với các linh kiện lắp xuyên qua lỗ

12) TCVN 11344-21:2016 (IEC 60749-21:2011), Phần 21: Tính dễ hàn

13) TCVN 11344-22:2017 (IEC 60749-22:2002), Phần 22: Độ bền của mối gắn

14) TCVN 11344-27:2016 (IEC 60749-27:2012), Phần 27: Thử nghiệm độ nhạy với phóng tĩnh điện (ESD) - Mô hình máy (MN)

15) TCVN 11344-30:2016 (IEC 60749-30:2011), Phần 30: Xử lý sơ bộ các linh kiện gắn kết bề mặt không kín khí trước thử nghiệm độ tin cậy

16) TCVN 11344-34:2016 (IEC 60749-34:2010), Phần 34: Thay đổi công suất theo chu kỳ

17) TCVN 11344-40:2016 (IEC 60749-40:2011), Phần 40: Phương pháp thử nghiệm thả rơi tấm mạch sử dụng băng đo biến dạng

18) TCVN 11344-42:2016 (IEC 60749-42:2014), Phần 42: Nhiệt độ và độ ẩm lưu kho

LINH KIỆN BÁN DẪN - PHƯƠNG PHÁP THỬ NGHIỆM CƠ KHÍ VÀ KHÍ HẬU - PHẦN 2: ÁP SUẤT KHÔNG KHÍ THẤP

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure

1 Phạm vi áp dụng

Tiêu chuẩn này quy định việc thử nghiệm áp suất không khí thấp trên các linh kiện bán dẫn. Thử nghiệm này xác định khả năng của các bộ phận và vật liệu để tránh sự cố đánh thủng điện áp do độ bền điện môi giảm thấp của không khí và các vật liệu cách điện khác ở áp suất giảm thấp. Thử nghiệm này chỉ áp dụng cho các linh kiện mà điện áp làm việc lớn hơn 1 000 V.

Thử nghiệm này có thể áp dụng cho tất cả các linh kiện bán dẫn trong vỏ bọc có lỗ trống. Thử nghiệm này chỉ dành cho các ứng dụng liên quan tới quân sự và không gian.

Nhìn chung, thử nghiệm áp suất không khí thấp này phù hợp với TCVN 7699-2-13 (IEC 60068-2-13) nhưng do các yêu cầu cụ thể của linh kiện bán dẫn, nên áp dụng các điều trong tiêu chuẩn này.

2 Tài liệu viện dẫn

Các tài liệu viện dẫn sau đây là cần thiết cho việc áp dụng tiêu chuẩn này. Đối với các tài liệu viện dẫn ghi năm công bố thì áp dụng phiên bản được nêu. Đối với các tài liệu viện dẫn không ghi năm công bố thì áp dụng phiên bản mới nhất (kể cả các sửa đổi).

TCVN 7699-2-13 (IEC 60068-2-13), Thử nghiệm môi trường - Phần 2-13: Các thử nghiệm - Thử nghiệm M: Áp suất không khí thấp

3 Trang thiết bị thử nghiệm

Trang thiết bị sử dụng cho thử nghiệm khí áp này gồm có một máy bơm chân không và một buồng kín thích hợp có phương tiện để quan sát bằng mắt các mẫu được thử nghiệm khi cần thiết, một bộ chỉ thị áp suất phù hợp để đo độ cao mô phỏng tính bằng mét trong buồng kín, và một micro ampe mét hoặc máy hiện sóng có khả năng phát hiện dòng điện trong dải dòng có tần số từ 0 đến 30 MHz.

4 Quy trình

Các mẫu thử được lắp trong buồng thử và áp suất được giảm tới giá trị được nêu ở một trong các điều kiện thử nghiệm quy định trong Bảng 1. Trong khi các mẫu thử được duy trìở áp suất quy định, chúng phải chịu các thử nghiệm thích hợp. Trong quá trình thử nghiệm này và trong thời gian 20 min trước đó, nhiệt độ thử nghiệm phải là 25 °C ± 10 °C. Đặt điện áp quy định lên linh kiện và theo dõi trên dải từ áp suất khí quyển xuống áp suất quy định nhỏ nhất và trở về xem linh kiện có bất kỳ trục trặc nào hay không.

Bảng 1 - Điều kiện thử nghiệm áp suất không khí tương ứng với độ cao so với mực nước biển

4.1 Phép đo thử nghiệm

Đấu nối linh kiện để đo và đặt điện áp quy định trong thời gian bơm giảm áp. Đặt điện áp lớn nhất (xem 5c) vào các chân theo dõi bằng micrô ampe mét hoặc máy hiện sóng xem có dòng điện vầng quang trong dải từ dòng điện một chiều đến đến dòng điện tần số 30 MHz hay không. Phải hiệu chuẩn dòng điện trong mạch thử nghiệm khi không có các cơ cấu thử nghiệm trong điều kiện thử nghiệm cụ thể áp dụng được để đảm bảo rằng các số đọc thử nghiệm là đặc trưng của linh kiện cần thử nghiệm.

4.2  Xử lý sau phơi nhiễm

Khi kết thúc thời gian thử nghiệm, đưa mẫu thử ra khỏi buồng thử và duy trì ở các điều kiện khí quyển tiêu chuẩn trong thời gian từ 2 h đến 24 h. Trường hợp có nước đá hoặc các hạt nước đọng trên mẫu thử, chúng phải được loại bỏ trước.

4.3  Tiêu chí hỏng

Linh kiện được đánh giá là hỏng nếu các giới hạn tham số bị vượt quá, hoặc nếu không đáp ứng được chức năng trong các điều kiện quy định trong quy định kỹ thuật liên quan. Linh kiện được coi là hỏng nếu bị phóng hồ quang, vầng quang có hại hoặc bất kỳ khuyết tật hoặc hư hại có thể gây trở ngại tới sự làm việc của linh kiện.

5  Tổng kết

Các nội dung sau đây phải được quy định trong tài liệu mua sắm có thể áp dụng:

a) Phương pháp lắp (xem Điều 4).

b) Điều kiện thử nghiệm (xem Điều 4). Nếu không có quy định nào khác thì phải sử dụng điều kiện E.

c) Các thử nghiệm trong quá trình phơi nhiễm áp suất giảm thấp (xem Điều 4). Nếu không có quy định nào khác, linh kiện phải chịu điện áp lớn nhất mà nó phải chịu trong các điều kiện làm việc danh định.

d) Thời gian xử lý sau phơi nhiễm (xem Điều 4).

e) Các phép đo cuối cùng, nếu áp dụng (xem Điều 4). Nếu không có quy định nào khác, linh kiện phải chịu đầy đủ các thử nghiệm về điện của các đặc tính hoặc tham số quy định của linh kiện.

f) Cỡ mẫu.

MỤC LỤC

Lời nói đầu

1  Phạm vi áp dụng

2  Tài liệu viện dẫn

3  Trang bị thử nghiệm

4  Quy trình

5  Tổng kết